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【My Profile】 |
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![]() 本体は勿論右側だったりします。 ![]() |
はじめまして。私が私設研究所Neo-Tech-Lab所長の上田智章です。 小学校5年のとき、当時教育実習生でこられた片岡先生に真空管式ワイヤレスマイクの回路図を書いていただき製作をしたことがきっかけで、エレクトロニクスとの付き合いが始まりました。以来1/3世紀以上にわたり趣味として続けています。 大学時代の夏休み中に加藤与五郎先生(武井武先生とともにフェライトを発明)の創立された創造科学教育研修所(軽井沢)での研修に計2回参加する機会がありましました。この研修は夏季休暇中に2週間行われる合宿です。毎朝9時から12時までの3時間、自分の発明・アイディアを自主的に発表します。他の参加学生や補佐の先生からそれに対する意見や改善点、考えられる市場性などいろいろなアドバイスをもらえます。欠点を指摘されれば必死に考えてその場で解決策を考えてもよし、一旦引き下がって翌日に雪辱戦を行ってもいいのです。これらは独創性、創造力を高める練習になりました。(なんと研修は午前のみで食事当番以外は午後から自由時間です。) こう書くとただのブレインストーミングのように受け取れるかもしれませんが、ちょっと違います。ただ、自分の考えを誰かに聞いてもらえるだけでも創造力を劇的に高めることができることや、他の人のアイディアを聞けば即座に改良案を作ることができるようになりました。この経験が現在の研究スタンスを決めるきっかけになっていると思います。 (創造科学教育研修の内容については別の機会にでも。1度研修でお会いしただけですが加藤与五郎先生の考えを実践されている方もおられます。) 会社の設備や環境に不足するものを補うために自前の研究所がほしくなり、 私設研究所Neo-Tech-Labを設立しました。 現在はまだ準備段階ですが他人の真似と言われないオリジナルな研究を行い、その事業化を目指しています。 2006年12月から加藤与五郎先生のおられた東京工業大学に所属することになりました。研究内容はLondon Centre for Nanotechnologyの副所長であるQuentin Pankhurst教授(UCL)とともに進めてきたナノ磁性微粒子のMagnetoacoustic effectを利用した乳がん用センチネルリンパ節検出センサに関係しています。研究内容の詳細につきましては順次公開の予定です。現在、Global Standardを目指した国際的な臨床試験ネットワークの構築を準備しています。2009年になり、そろそろ公表時期が近づいてきました。株式会社フォスメガのページにて順次公開の予定です。 |
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【文献】 学会発表はずいぶんしましたが、論文化には力を入れていなかったので数は少ないです。 また、東京工業大学のミッションは基本的に特許戦略重視のため学会発表は行いません。 【既出願特許】 特許出願は漸く110件を超えたところです。 出願済みでも公開前の発明はリストに含まれていません。次は取り合えず200件が目標。 US Patent 25件 【助成金】 平成19年度(2007年度) 財団法人 マザック財団 「ノイズ拡散抑制法による超高感度リニア・エンコンダーの開発」 |
【経歴】 ●1982年 同志社大学工学部電子工学科 卒 ●1984年 同志社大学大学院工学研究科電気工学専攻 修了 ●1984-1998 ダイキン工業株式会社 電子技術研究所 勤務 ●1998-2000 株式会社 計測器センター 開発部長 ●2000- 株式会社関西新技術研究所SQUID研究部主任研究員 ● 株式会社KRI センシング技術部 主席研究員 ●2006年12月-2010年3月 東京工業大学 統合研究院 ソリューション研究機構 特任教授 【現在】 ■東京工業大学 ソリューション研究機構 特任教授[2010年04月01日〜] 神奈川県横浜市緑区長津田 すずかけ台キャンパス S1-106 ■潟lオテックラボ(Neo-Tech-Lab Co., Ltd.)代表取締役[2006年12月1日〜] ■潟tォスメガ(PhosMega Co., Ltd.)代表取締役[2007年8月10日〜] 東京工業大学の教授、准教授、助教らからなる有志7名で受託研究会社を 登記設立。東京工業大学発ベンチャーの認定を受けた。現在出願手続きが 完了した2件の基本発明(特願2007-173505、特願2007-280739)に関しては 東京工業大学より独占実施権、ライセンス権を得ており、これらを基に様々な 応用分野毎に受託研究を行っている。ライセンスは1業種1社のみとする。 個人発明1件もPhosMegaに譲渡し、工業所有権をPhosMegaに集中させて PhosMegaにおける受託研究に活用してゆくことにした。これらの発明は非常 に応用分野が広く、経済への影響が非常に大きいと考えられる。これら発明 を応用分野に特化する過程でさらに多くの発明が生み出せる。PhosMegaは これらを製品(Our Products)としてClientに出荷(譲渡)する事業を展開する。 |
【所属学会】 ◆日本生体医工学会 ◆電子情報通信学会 ◆日本生体磁気学会 ◆日本応用磁気学会 ◆日本音響学会 |
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| ◆◆◆ダイキン工業電子技術研究所◆◆◆ | |
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入社に伴い、社外発表禁止のため雑誌への投稿ができなくなる。学会発表も最初の5年間はできず。当時は定期採用の電子系院卒が私1名と言う状態だったので周囲の理解がなかった。 |
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■これは多チャンネル脳波計測結果から脳内の電気的興奮部位を探査する目的の「ニューロ・スキャン」という装置です。 ■人体の組織(脳、脳髄液、頭 蓋骨、頭皮等)は個別に異なった組織導電率を持っているため、電流の流れ易さが違う のです。それ故、水の屈折率のせいで水の中のものが実際とは違った位置に見えるように、多チャンネル脳波計測結果だけから興奮部位を可視化することは困難でした。 ■この装置は、予め1.5TのMRIで1cm刻みの頭部のスライス画像を得ておき、これを基に脳、頭蓋骨等の領域に分割した3次元の頭部モデルを構築します。この3次元モデルは境界要素法モデルと言います。 ■実際に張り付けた脳波計測用電極(国際標準10−20法)の位置 もCCDカメラで撮影して3次元モデル上の電極座標を割り出します。 ■計測は2段階で行われ、インピーダンス・プレチスモ・グラフのように微弱な交流電流 (3μAppの矩形波電流)を前頭部−後頭部間に通電し、各電極での電位ポテンシャルを測定します。 ■この電位ポ テンシャルと多層境界要素法3次元モデルに基づいて、脳や頭蓋骨の組織導電率を求めるのです。実際の測定結果は死体の測定結果の文献値と殆ど一致しました。 ■第2段階は脳波計測で、各組織導電率の結果に基づいて補正をかけながら、脳内の電流源位置、分布を推定するのです。 ■多チャンネル心電図測定結果から心臓内の電気活動を3次元的に可視化観測するシステムも試作しました。 ■このシステムの最大特徴は、体内電流源だけでなく、帰還電流分布●も考慮した上で体内電流源の推定を行うところでした。 ◆会社の都合で事業化には至りませんでしたが、この研究では、数学的な基礎や生体計測システムの電子回路の知識を広く身に付けることができました。東京工業大学のミッションのひとつでもこの技術は役立っています。 ●SQUID磁束計を使ったMCG(心磁図)計測システムの研究等で、帰還電流を考慮しないモデルを散見しますが、これでは精確な推定結果は得られないのです。 |
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| ◆◆◆株式会社 計測器センター◆◆◆ |
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ダイキン工業の新規事業社内公募ユーレカ・プロジェクトに「微弱異音検査用センサ」を軸とする新規計測事業を提案。 ここに移るが、小さな企業にはそのような余裕はなく、2次電池充放電試験システムや燃料電池の試験システムの開発を担当する。 |
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◆◆◆株式会社 関西新技術研究所 ⇒ 株式会社KRI [社名変更]◆◆◆ 受託研究会社 KRIに移る。会社の性格上、受託研究内容は公表できないものが殆どである。 公表できる数少ないプロジェクトは次の3つ。発明者に記載のあるものについては特許検索可能。 |
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・センチネル・リンパ節検出用磁気センサの開発 秋田大学医学部 小川純一教授、南谷佳弘助教授、片寄喜久助手の依頼に基づいて体内に滞留する磁性微粒子を検出する励磁式磁気センサを開発する。 ![]() |
・岩手心磁計プロジェクト 64ch Drung型FLLとデータロガーシステム ![]() 上は8chFLL(Flux Locked Loop) |
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・岩手心磁計プロジェクト アクティブ磁気シールド(マルチ・パネル型) |
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○論文 (文献1と2は容量がでか過ぎて重いのでDLには長時間かかりますのでご注意を。) 1) 上田智章、相根政幸、笠松晃、葛西直子、粟野直行:"逆問題解析の為の生体組織導電率推定の試み",日本生体磁気学会論文誌, Vol.8, No.2, 1995 2) Tomoaki Ueda, Naoko Kasai, Masayuki Sagane, Kazuo Chinone, Naoyuki Awano,"Visualization for Electric Activities in a Human Heart", Biomag96, pp.569-572, 1996 3) Tomoaki Ueda, Keita Yamazaki, Makoto Takenaka, Tomoya Sato, Akira Haga,"Active Magnetic Shield controlled by algorithms without Cross-interference", Biomag2004, pp.644-645, 2004 ○特許 【国内出願特許】 PATLIS(平成4年3月31日以前)と特許庁の電子図書館の公報テキスト検索(平成5年以降)を併用して検索したものです。どちらの検索エンジンも元データ入力にミスがあるようで、検索漏れがあるようです。もう一度照合してみる必要性を感じています。 001)【出願日】S60.9.27 【名称】走査型デイスプレイ装置における多角形ぬりつぶし装置 【発明人】大阪達彦、上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特許2104210[H8.11.6],(特公平08-31138,特開昭62-74164) 002)【出願日】S60.9.27 【名称】多角形の種類判別装置 【発明人】西口和夫、大阪達彦、上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特許2011708[H8.2.2],(特公平07-43771,特開昭62-74165) 003)【出願日】S60.9.27 【名称】キャリー・ルック・アヘツド加算器 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特開昭62-74129 004)【出願日】S60.9.27 【名称】累積加算器 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特許1807917[H5.12.10],(特公平05-14935,特開昭62-74148) 005)【出願日】S60.9.27 【名称】直線補間器用増分データ転送装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特許1927862[H7.5.12],(特公平06-34206,特開昭62-74150) 006)【出願日】S60.9.27 【名称】直線補間器用除算器 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特許2067108[H8.7.10],(特公平07-104854,特願昭62-74151) 007)【出願日】S60.9.27 【名称】走査型デイスプレイ装置における多角形頂点データ追尾装置 【発明人】加井隆重、上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特許2100406[H8.10.22],(特公平08-27842,特開昭62-74166) 008)【出願日】S60.10.1 【名称】直線補間器用除算器 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特許2099214[H8.10.22],(特公平08-3813,特開昭62-78678) 009)【出願日】S61.9.24 【名称】テクスチヤマツピング装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特許2612260[H9.2.27],(特開昭63-80375) 010)【出願日】S61.9.24 【名称】多角形ぬりつぶし装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特許2018887[H8.2.19],(特公平07-54551,特開昭63-80374) 011)【出願日】S61.9.24 【名称】Zソーテイング装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特許2028066[H8.3.19],(特公平07-58511,特開昭63-80376) 012)【出願日】S61.9.25 【名称】断面図描画装置 【発明人】上田智章、西口和夫 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特許2668863[H9.7.4],(特開昭63-81583) 013)【出願日】S61.9.25 【名称】断面図描画装置 【発明人】上田智章、西口和夫 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特許2668864[H9.7.4],(特開昭63-81584) 014)【出願日】S61.10.21 【名称】断面図描画装置 【発明人】上田智章、西口和夫 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特許2668867[H9.7.4],(特開昭63-104192) 015)【出願日】S61.10.22 【名称】図形描画装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特開昭63-106085 016)【出願日】S61.10.21 【名称】画像メモリ用バッフア制御装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特開平01-108685 017)【出願日】S61.10.21 【名称】画像メモリ書込み制御装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特許2028158[H8.3.19],(特公平07-60458,特開平01-108689) 018)【出願日】S61.10.21 【名称】多角形ぬりつぶし制御装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特許2081841[H8.8.23],(特公平07-122905,特開平01-108689) 019)【出願日】S62.10.28 【名称】図形データ管理装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特許2545886[H8.8.8],(特開平01-114985) 020)【出願日】S62.10.28 【名称】テクスチヤマツピング装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特開平01-114990 021)【出願日】S62.11.2 【名称】ハツシユ処理制御装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特開平01-119825 022)【出願日】S62.11.2 【名称】画像メモリデータ処理制御装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特許2551045[H8.8.22],(特開平01-119877) 023)【出願日】S62.11.2 【名称】画像メモリデータ処理制御装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特開平01-119878 024)【出願日】S62.11.30 【名称】シーケンシヤルアドレス生成装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特開平01-144139 025)【出願日】S62.12.26 【名称】パターンデータ書込み制御装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特開平01-171074 026)【出願日】S63.6.28 【名称】3次元隠面処理描画装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特開平02-10477 027)【出願日】S63.7.14 【名称】コンピユータ 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特許1996331[H7.12.8],(特公平7-31598,特開平2-24717) 028)【出願日】S63.8.5 【名称】テクスチヤマツピング装置およびその方法 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特許2951663[H11.7.9],(特開平01-131976,国内優先特願昭62-197131) 029)【出願日】H1.3.23 【名称】メモリ書込み制御方法およびその装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特許2741710[H10.1.30],(特開平02-289095) 030)【出願日】H1.3.23 【名称】図形描画装置におけるメモリとのインターフエース方法およびその装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特開平02-250183 031)【出願日】H1.3.23 【名称】画像メモリ・アクセス方法およびその装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特開平02-250185 032)【出願日】H1.4.17 【名称】画像メモリ制御方法およびその装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特開平02-275527 033)【出願日】H1.4.20 【名称】ビツト・フイールド制御装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特許2694758[H9.9.12],(特開平02-278425) 034)【出願日】H1.4.20 【名称】ビツト・テスト処理装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特開平02-278427 035)【出願日】H1.4.20 【名称】座標データ転送方法およびその装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特許2730013[H9.12.19],(特開平02-278444) 036)【出願日】H1.4.20 【名称】図形データ管理方法およびその装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特開平02-278467 037)【出願日】H1.4.25 【名称】図形描画装置における描画データ管理方法およびその装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特許2082211[H8.8.23],(特公平08-1658,特開平02-284265) 038)【出願日】H1.5.23 【名称】エツジ強調ポリゴンぬりつぶし方法およびその装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特開平02-308382 039)【出願日】H1.8.10 【名称】図形クリツプ方法およびその装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特許2035270[H8.3.28],(特公平07-69970,特開平03-71276) 040)【出願日】H1.8.10 【名称】図形描画装置における座標変換装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特開平03-71268 041)【出願日】H1.8.10 【名称】ヒツト検出方法およびその装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特開平03-71271 042)【出願日】H1.8.21 【名称】エツジ強調ポリゴンぬりつぶし方法およびその装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特開平03-78095 043)【出願日】H1.10.25 【名称】エツジ強調ポリゴンぬりつぶし装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特開平03-138781 044)【出願日】H1.10.25 【名称】グラフイツクス表示装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特許3140024[H12.12.15],(特開平03-138768)? 045)【出願日】H1.10.25 【名称】テクスチヤ・マツピング方法およびその装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特許3140024[H12.12.15],(特開平03-138779) 046)【出願日】H1.10.25 【名称】グラフイツクス表示装置におけるメモリ・アクセス方法およびその装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特開平03-138694 047)【出願日】H1.11.7 【名称】データ伝送方法およびその装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特許2803237[H10.7.17],(特開平03-150938) 048)【出願日】H1.11.24 【名称】距離測定方法、その装置および相対位置測定装置 【発明人】上田智章、小畑光央 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特許2718222[H9.11.14],(特開平03-165287) 049)【出願日】H1.12.29 【名称】クリツプ処理方法およびその装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特開平03-204090 050)【出願日】H1.12.27 【名称】メモリ・アクセス方法およびその装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特許2518429[H8.5.17],(特開平03-201049) 051)【出願日】H1.12.27 【名称】プルーニング方法およびその装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特開平03-201082 052)【出願日】H2.1.25 【名称】図形描画装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特開平03-219378 053)【出願日】H2.1.25 【名称】マルチ・ウインドウ表示描画方法およびその装置 【発明人】上田智章、池田滋亜、友田稔 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特開平03-220595 054)【出願日】H2.9.7 【名称】SQUID特性試験装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特開平04-116478 055)【出願日】H2.9.7 【名称】磁束ロツク方法およびその装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特許2071968[H8.7.25],(特公平07-104402,特開平04-116479) 056)【出願日】H2.9.7 【名称】磁束ロツク装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特開平04-116480 057)【出願日】H2.9.7 【名称】磁場測定方法、およびその装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特許2071969[H8.7.25],(特公平07-104403,特開平04-116481) 058)【出願日】H2.9.7 【名称】平面断層像補間表示装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特開平04-117945 059)【出願日】H2.9.30 【名称】ベクトル磁束測定方法およびその装置 【発明人】賀戸久、上田智章 【出願人】産業技術総合研究所、ダイキン工業株式会社 【番号】特許1961780[H7.8.25],(特公平06-87075,特開平04-140680) 060)【出願日】H2.9.30 【名称】心磁図同期検出用の基準部分検出方法、心磁図同期加算方法、心磁図同期検出装置および心磁図同期加算装置 【発明人】賀戸久、上田智章 【出願人】産業技術総合研究所、ダイキン工業株式会社 【番号】特許2031679[H8.3.19],(特公平07-67440,特開平04-141140) 061)【出願日】H2.9.30 【名称】磁束ロツク方法およびその装置 【発明人】上田智章、柳田靖人、田中正浩 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特許2094324[H8.10.2],(特公平08-16692,特開平04-140681) 062)【出願日】H2.9.30 【名称】スクイド 【発明人】上田智章、木戸照雄 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特許2621623[H9.4.4],(特開平04-214684) 063)【出願日】H2.11.30 【名称】エツジ強調ポリゴンぬりつぶし方法およびその装置 【発明人】上田智章、西口隆也 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特開平04-205484 064)【出願日】H2.9.30 【名称】探査方法およびその装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特許3136635[H12.12.8],(特開平04-310886) 065)【出願日】H3.8.13 【名称】探査装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特許2669204[H9.7.4],(特開平05-42140) 066)【出願日】H3.8.13 【名称】ニユーラル・ネツトワーク 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特開平05-46582 067)【出願日】H3.8.13 【名称】適応ノイズ除去フイルタ 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特許2679464[H9.8.1],(特開平05-48390) 068)【出願日】H3.11.25 【名称】物理量解析方法およびその装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特開平05-94543,国内優先特願平3-195581 069)【出願日】H3.12.10 【名称】物理源解析方法およびその装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特許2949983[H11.7.9],(特開平05-157735) 070)【出願日】H3.12.27 【名称】未知数量推定方法およびその装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特許2722906[H9.11.28],(特開平05-181825) 071)【出願日】H4.5.14 【名称】生体磁場測定方法およびその装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特開平05-317281 072)【出願日】H4.5.14 【名称】断層像処理方法、生体磁場測定方法、生体磁場測定結果表示方法およびこれらの装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特許3084951[H12.7.7],(特開平06-28455,国内優先特願平4-122295) 073)【出願日】H4.5.27 【名称】メモリ・アクセス制御方法およびその装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特開平06-35790 074)【出願日】H5.6.4 【名称】物理量解析方法およびその装置 【発明人】上田智章、相根政幸 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特開平06-348870 075)【出願日】H5.12.6 【名称】物理量解析装置 【発明人】上田智章、相根政幸 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特許3718856[H17.9.16],(特開平07-049857,国内優先特願平5-133707) 076)【出願日】H6.4.18 【名称】光学的測定装置およびその方法 【発明人】長谷川雅典、上田智章、重森和久、増田堅司、吉田雅一、阪本知己 【出願人】ダイキン工業株式会社(出願時)、日水製薬株式会社(特許権者) 【番号】特許3326708,(特開平07-120397) 077)【出願日】H6.9.22 【名称】生体組織導電率の測定方法 【発明人】相根政幸、上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特開平08-089490 078)【出願日】H8.5.29 【名称】電子ポットおよび室内加湿装置 【発明人】上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特開平09-313354 079)【出願日】H8.7.9 【名称】異音検出装置 【発明人】吉武博信、上田智章 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特開平10-019656 080)【出願日】H9.12.1 【名称】同期検波方法およびその装置 【発明人】相根政幸、上田智章、秋山竜司 【出願人】ダイキン工業株式会社 【番号】特開平11-163635 081)【出願日】H12.8.29 【名称】液体噴出電極、液体排出電極、またはそれを用いた体表面電位探針装置 【発明人】藤井元、出馬弘昭、上田智章 【出願人】大阪瓦斯株式会社 【番号】特開2002-065625 082)【出願日】H12.9.8 【名称】水槽型生体電位計測装置 【発明人】藤井元、出馬弘昭、上田智章 【出願人】大阪瓦斯株式会社 【番号】特開2002-078693 083)【出願日】H12.9.8 【名称】心電図計測装置 【発明人】藤井元、出馬弘昭、藤田智、上田智章 【出願人】大阪瓦斯株式会社 【番号】特開2002-078695 084)【出願日】H12.9.12 【名称】生体電位計測装置およびそれを用いた信号処理装置 【発明人】藤井元、出馬弘昭、上田智章 【出願人】大阪瓦斯株式会社 【番号】特開2002-085362 085)【出願日】H12.10.6 【名称】給湯装置およびそれを用いた浴室内部環境制御装置 【発明人】藤井元、出馬弘昭、藤田智、上田智章 【出願人】大阪瓦斯株式会社 【番号】特開2002-115902 086)【出願日】H12.10.27 【名称】浴室外部機器制御装置 【発明人】藤井元、出馬弘昭、藤田智、上田智章 【出願人】大阪瓦斯株式会社 【番号】特開2002-126031 087)【出願日】H13.3.28 【名称】沈水検出センサおよびそれを用いた沈水検出システム 【発明人】藤井元、出馬弘昭、上田智章 【出願人】大阪瓦斯株式会社 【番号】特開2002-222475 088)【出願日】H13.3.28 【名称】浴槽血圧計 【発明人】藤井元、出馬弘昭、上田智章 【出願人】大阪瓦斯株式会社 【番号】特開2002-282223 089)【出願日】H13.3.23 【名称】生体情報測定装置 【発明人】藤井元、出馬弘昭、上田智章 【出願人】大阪瓦斯株式会社 【番号】特開2002-282224 090)【出願日】H13.3.26 【名称】水泳用プールの心電情報計測装置 【発明人】藤井元、出馬弘昭、上田智章 【出願人】大阪瓦斯株式会社 【番号】特開2002-282228 091)【出願日】H13.3.23 【名称】浴槽設備 【発明人】藤井元、出馬弘昭、上田智章 【出願人】大阪瓦斯株式会社 【番号】特開2002-282325 092)【出願日】H13.3.26 【名称】携帯式の検知装置及びその検知装置を備えた検知システム 【発明人】藤井元、井出康弘、出馬弘昭、上田智章 【出願人】大阪瓦斯株式会社 【番号】特開2002-288761 093)【出願日】H13.12.12 【名称】発汗量測定装置 【発明人】藤田智、藤井元、出馬弘昭、上田智章 【出願人】大阪瓦斯株式会社 【番号】特開2002-355224 094)【出願日】H13.5.31 【名称】磁界解析方法および電流分布可視化装置 【発明人】吉澤正人、中居賢司、川副浩平、上田智章、山崎慶太、加藤和夫、中村義彦 【出願人】科学技術振興事業団、株式会社関西新技術研究所、株式会社竹中工務店 【番号】特開2002-355229 095)【出願日】H13.8.31 【名称】沈水検知装置 【発明人】藤井元、藤田智、出馬弘昭、上田智章 【出願人】大阪瓦斯株式会社 【番号】特開2003-077077 096)【出願日】H13.9.26 【名称】心拍揺らぎ表示システム 【発明人】藤井元、藤田智、出馬弘昭、上田智章 【出願人】大阪瓦斯株式会社 【番号】特開2003-093360 097)【出願日】H13.10.23 【名称】磁性流体検出方法および磁性流体検出装置 【発明人】小川純一、南谷佳弘、片寄喜久、斉藤礼次郎、鎌田収一、上田智章 【出願人】小川純一、南谷佳弘、片寄喜久、斉藤礼次郎、鎌田収一、オリンパス光学工業株式会社 【番号】特開2003-128590 098)【出願日】H13.12.10 【名称】マイコンの異常検出回路 【発明人】松下博、門脇あつ子、岡田修一、田川滋、上田智章 【出願人】大阪瓦斯株式会社 【番号】特許3762695[H18.1.20](特開2003-172762) 099)【出願日】H13.12.12 【名称】心電図解析装置及び解析方法 【発明人】藤田智、藤井元、出馬弘昭、上田智章 【出願人】大阪瓦斯株式会社 【番号】特開2003-175009 100)【出願日】H13.12.12 【名称】心電計測電極及び浴槽心電計測装置 【発明人】藤田智、藤井元、出馬弘昭、上田智章 【出願人】大阪瓦斯株式会社 【番号】特開2003-175087 101)【出願日】H14.3.11 【名称】脈波計測装置及びそれを備えた浴槽血圧計 【発明人】戸川達男、小川充洋、藤田智、藤井元、出馬弘昭、上田智章 【出願人】大阪瓦斯株式会社 【番号】特開2003-260032 102)【出願日】H14.10.4 【名称】磁性流体検出装置 【発明人】岡村俊朗、上野仁士、金子守、上田智章 【出願人】オリンパス株式会社 【番号】特開2004-121667 103)【出願日】H14.11.15 【名称】環境磁気雑音遮蔽装置 【発明人】加藤和夫、山崎慶太、上田智章、吉澤正人 【出願人】株式会社竹中工務店 【番号】特開2004-172151 104)【出願日】H15.5.21 【名称】環境磁気雑音遮蔽装置 【発明人】上田智章、山崎慶太、加藤和夫、高山政明、村松和弘、芳賀昭、吉澤正人 【出願人】株式会社KRI、株式会社竹中工務店、科学技術振興事業団 【番号】特開2004-349431 105)【出願日】H15.6.26 【名称】磁界検出素子 【発明人】上田智章、竹中誠 【出願人】株式会社KRI 【番号】特開2005-017110 106)【出願日】H16.2.2 【名称】環境磁気雑音遮蔽装置 【発明人】上田智章、竹中誠 【出願人】株式会社KRI 【番号】特開2005-217341 107)【出願日】H16.6.3 【名称】SQUID用ダブルカウンタ方式によるヒステリシス特性型ディジタルFLL装置 【発明人】小林宏一郎、小山大介、吉澤正人、中居賢司、清水隆行、上田智章 【出願人】独立行政法人科学技術振興機構 【番号】特開2005-345289 108)【出願日】H16.11.1 【名称】地中探査方法および地中探査装置 【発明人】清水茂和、高橋靖男、岸本行央、上田智章、中村和人 【出願人】キヤノン株式会社 【番号】特開2006-126117 109)【出願日】H16.11.1 【名称】地中探査装置 【発明人】清水茂和、高橋靖男、岸本行央、上田智章、中村和人 【出願人】キヤノン株式会社 【番号】特開2006-126120 110)【出願日】H17.2.4 【名称】コンクリート含有成分測定装置および測定方法 【発明人】上田智章、竹中誠、藤井英美、嶺岸茂樹、芳賀昭、山崎慶太、三井健郎、加藤和夫 【出願人】株式会社KRI、株式会社竹中工務店 【番号】特開2006-214941 111)【出願日】H17.10.17 【名称】磁性流体検出装置 【発明人】上田智章、パンクハースト クェンティン 【出願人】株式会社KRI、ユニバーシティ カレッジ ロンドン 【番号】特開2007-105351 112)【出願日】H18.7.7 【名称】DAコンバータおよびADコンバータ 【発明人】上田智章 【出願人】上田智章 【番号】特開2008-17239 特許第4496493号 (登録日 平成22/04/23) ![]() 113)【出願日】 【名称】弾性波送波装置及び反射弾性波測定装置 【発明人】上田智章、他 【出願人】株式会社竹中工務店 【番号】特開2008-185425 114)【出願日】 【名称】コンクリート杭の健全性評価支援装置、健全性評価支援方法及び健全性評価支援プログラム 【発明人】上田智章、他 【出願人】株式会社竹中工務店 【番号】特開2008-185426 115)【出願日】 【名称】撮像装置、画像再生装置、及び撮像方法 【発明人】上田智章 【出願人】マスレ ホールディングス エルエルピー 【番号】特許4402161 116)【出願日】 【名称】トナーの製造方法 【発明人】上田智章 【出願人】株式会社フォスメガ 【番号】特開2010-072637 :::::この間に出願あり。未公開::::: 11x)【出願日】H19.6.29 【名称】 ***************** 【発明人】上田智章、阿部正紀、中川貴、多田大 【出願人】国立大学法人 東京工業大学 【番号】 未公開(特願2007-173505) 11x)【出願日】H19.10.29 【名称】 ***************** 【発明人】上田智章、阿部正紀、中川貴、多田大、水本哲弥、半田宏、サンドウー アダルシュ、荒木純道 【出願人】国立大学法人 東京工業大学 【番号】 未公開(特願2007-280739) :::::この後に数件の出願あり。未公開::::: |
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United States Patent List ●申し訳ないのですが、US Patentの明細書へのリンクをうまく張ることができませんので、内容の閲覧にはこの検索結果を利用してください。
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